德国XEye X射线平板探测器

产品介绍

基本组成

• 闪烁体将X射线转化为可见光

• TFT阵列探测可见光

像素缺陷		老化灼伤
	普通的平板探测器 在使用一段时间后 会有缺陷像素点出 现，要通过软件算 法屏蔽缺陷点。		普通平板长时间使 用，老化灼伤现象 明显严重影响成像 质量。

图像延迟比较

第一张图像

采用XEye平板第二张图像无图像延迟

采用普通平板第二张图像有百分之八延迟

成像原理

产品特点

●元器件和传感器完全屏蔽保护，因此不会因为辐照而老化

●永久稳定的图像质量和超长的使用寿命

●高动态范围

●无像素缺陷，因为每个像素点都是由数个独立的像素点组成的。

●几乎可以忽略的图像延迟（小于0.1%）

●图像读取在被测物体运动时进行（ interline 传输模式）

• 动态范围: 1200 : 1

Butting GmbH & Co.KG——大直径长管焊缝检测系统

- 自2006年8月开始，24小时7天连续工

- 始终保持高品质图像输出

- 至今一直无故障运行

- Detector XEyeS:  50 μm,200 mmx50 mm, 动态范围: 1200 : 1

Butting GmbH & Co.KG——大直径长管焊缝检测系统

Filmtyp D4 QDD:1250mm 25mA, 130kV 曝光时间: 84 s
XEyeS QDD:400mm 4mA, 130kV 曝光时间: 2 s		曝光时间转换成相同的情况 (QDD:400mm, 4mA, 130kV): Film (D4):      53.7 s XEye:      2 s

轮毂检测

Borbet公司——铝制轮毂检测系统

⦁ 探测器型号 Eye4020 400 mm x200 mm 有效范围 ⦁ 像素尺寸: 200 μm ⦁ 在高动态范围（5000:1）和大范 围有效面积的情况下，检测时间 周期较少30%。

Borbet公司——流水线活塞检测系统

•  CT流水线检测系统 ⦁ 循环周期 30秒 • 探测器型号 XEye2020 200 mm x200 mm有效范围 ⦁ 像素尺寸: 400 μm • 图像刷新速度: 16 fps

图像延迟

测量关闭射线后，平板的亮度信号。

X Eye和典型平板对比

X Eye的图像延迟主要由闪烁体余辉

产生。