近日，瑞典XCounter公司首席工程师Dr.Alex Stewart来我司拜访。
拜访期间Alex 介绍了CdTe的物理性质、光子计数探测器的基本原理、成像方式、如何实现双能剪影等并展示了XCounter探测器的图像案例。为国内集成设备厂商打开了新的思路。
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近日，瑞典XCounter公司首席工程师Dr.Alex Stewart来我司拜访。
拜访期间Alex 介绍了CdTe的物理性质、光子计数探测器的基本原理、成像方式、如何实现双能剪影等并展示了XCounter探测器的图像案例。为国内集成设备厂商打开了新的思路。
